1996 ~ 1999 J.S.Kim, Hoi-Jun Yoo, and K.S. Seo
페이지 정보
작성자 운영자 댓글 0건 조회 2,152회 작성일 19-02-09 03:29본문
| Title | An Analytical Model for the Effect of Graded Gate Oxide on the Channel Electric Field in MOSFET's with Lightly Doped Drain Structure |
|---|---|
| Authors | J.S.Kim, Hoi-Jun Yoo, and K.S. Seo |
| Year | 1996 ~ 1999 |
| Publication | SSE 1997 |
| Link | |
| File | |
댓글목록
등록된 댓글이 없습니다.